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다나까귀금속공업 반도체 검사 장비용 팔라듐 합금 재료 ‘TK-SK’ 발표
팔라듐 합금 재료로서 경도 640HV 달성
반도체 검사 장비에서 프로브 핀의 마모로 인한 변형을 경감하고 검사 장비의 수명 연장과 비용을 줄이는데 기여
2024년10월17일
다나까 귀금속 그룹의 핵심 기업으로서 산업용 귀금속 사업을 전개하는 다나까귀금속공업 주식회사는 반도체 패키지 후공정의 프로브 핀용 팔라듐(Pd) 합금 재료인 ‘TK-SK’(티케이에스케이)를 발표합니다. 본 제품은 2024년 10월 24일(목)~25일(금)에 후쿠오카현에서 개최되는 ‘SWTest Asia 2024’에서 패널 전시를 하며, 연내에 샘플 제공을 예정하고 있습니다.
다나까귀금속공업은 반도체 제조의 전공정 및 후공정에서 실시되는 검사 장비용으로 다양한 귀금속 프로브 핀용 재료를 제조하여 제공하고 있습니다. 이번에 발표하는 ‘TK-SK’는 프로브 핀용 팔라듐 합금 재료로 최대 경도 640HV를 지니고 있어 주로 후공정에서 실시되는 통전시험의 최종 테스트에 이용되는 테스트 소켓용으로 용도를 상정하고 있습니다.
고경도 프로브 핀은 최근 수요가 높아지고 있지만 경도를 높이면 절삭 시 파손되는 등 재료의 가공이 어려워지는 문제가 있어 시장에 유통되는 팔라듐 합금계 재료의 경도는 560HV 정도가 최대로 여겨져 왔습니다. 이번에 다나까귀금속공업은 독자적 가공 기술로 경도 640HV에 도달하는 본 제품의 개발에 성공하였습니다. 본 제품은 2028년까지 기존 제품의 1.5배 출하량 달성을 목표로 하고 있습니다.