金・金接合用 低温焼成ペースト AuRoFUSE™

金・金接合用 低温焼成ペースト AuRoFUSE™

AuRoFUSE™製品イメージ

サブミクロンサイズの金粒子が持つ低温焼結性能に着目

サブミクロンサイズの金粒子が持つ低温焼結性能に着目し、200℃で金-金接合可能なハロゲンフリーの金ペーストを開発しました。本ペーストはサブミクロンサイズの金粒子と溶剤のみで構成され、低電気抵抗(5.4µΩ・cm)で、高熱伝導度(150W/m・K)な金属接合を提供できます。

特長

高分子等を含有しない球状サブミクロンAu粒子

  • 約150℃から無加圧で焼結が開始される
  • 無加圧焼結の場合、多孔質焼結体が得られる ⇔ 加圧により緻密なAuが得られる
  • 樹脂や高分子の有機保護材を用いていないため、焼結体からのアウトガスが少ない
  • 焼成後は高純度なAuが得られる
  • 150℃・5min(拡大)
    AuRoFUSE™ 焼結@150℃・5min(拡大)
  • 200℃・5min
    AuRoFUSE™ 焼結@200℃・5min
  • 300℃・5min
    AuRoFUSE™ 焼結@300℃・5min
  • 400℃・5min
    AuRoFUSE™ 焼結@400℃・5min

“無加圧接合”によって得られるポーラス接合体の特性

特徴 接合体の特性 AuRoFUSE™
230℃ with no pressure
低抵抗 Electrical resistivity
(µΩ・cm,@25℃)
5.4
高熱伝導率 Thermal conductivity
(W/mK)
>150
高温耐性 Heat-resistant (℃) 1064
柔軟 Young’s modulus
(Gpa,@25℃)
9.5
高強度 Shear strength
(Mpa,@25℃)
30
高コンテント Au content (mass%) 99.95
Au-Au接合 Under Barrier Metal Au/Pt/Ti, Au/TiW

使用方法

  • ディスペンス法、ピン転写法で、基板側の金電極上にペーストを供給します。
  • デバイス(金電極)をマウント後、押圧無しで200℃へ昇温(0.5℃/秒)、20分で接合できます。
  • 大気、雰囲気ガス中のいずれでも接合可能であり、接合後の洗浄は不要です。
  • 接合強度の更なる向上には、200℃で1時間程度の追加加熱が有効です。
提供形態 ペースト_図番_ TR-191T1000
容器種類
(容器材質)
シリンジ
EFD社製/5cc シリンジ (PP)/
ピストン (PE)

AuRoFUSE™の提供形態①:シリンジ

ポット
軟膏容器(PP又はPE)
*量によって容器は変わります。

AuRoFUSE™の提供形態②:ポット

接合材料の違いによる耐久性比較例

AuRoFUSE™、金/すずはんだ、銀/すず/銅はんだを用いてLEDを金属基板にフリップチップ接合した。12個のLED素子を直列に接合したものを、2並列で実装したLEDモジュールを製作した。その後、負荷電力24ボルト、350mA、点灯・消灯試験(負荷時間15分)による熱ストレス試験を実施した。 その結果、Au粒子接合したLEDデバイスの高い接合信頼性を実証した。

LEDモジュールの接合信頼性試験結果
AuRoFUSE™、金/すずはんだ、銀/すず/銅はんだを用いたLEDモジュールの接合信頼性試験結果グラフ