「めっきプロセス」ソリューション

田中貴金属の「めっきプロセス」 ― 貴金属被膜形成 ―
田中貴金属では、多様な分野に対応する高品質なめっきプロセスをご提案しています。
概要
田中貴金属の一員であるEEJA株式会社では、半導体・エレクトロニクス製品から装飾製品まで、幅広い分野に向けた高品質なめっきプロセスをご提供しています。お客様の用途やニーズを的確に把握した専門スタッフによる技術提案により、最適なプロセスを構築。性能・コスト・信頼性のバランスに優れた、ベストソリューションをお届けします。
各種プロセス
詳細はこちら
- 半導体ウエハー用配線形成用各種めっきプロセス
- 半導体ウエハー用ダイアタッチ形成用各種めっきプロセス
- コネクター、プローブ接点向け各種めっきプロセス
- 半導体チップ実装用各種めっきプロセス
- 電子部品向け各種めっきプロセス
- 装飾用各種めっきプロセス
グループ全体でのサポート体制
EEJAはお客様のニーズに合わせた最適なめっきプロセスをご提案いたします。薬品・装置・プロセスから、マーケット情報やコンサルティングなどの技術サービスまで、表面処理のプロフェッショナルとして、各分野で求められる表面処理製品に関わる技術とサービスをご提供いたします。
また、EEJAはアジア最大の貴金属メーカーである田中貴金属グループの一員であり、業界市場規模が変動する中でも、将来にわたり安定した貴金属材料の供給が可能です。これにより、お客様の製造プロセスにおける信頼性と持続可能性を支えます。
EEJAの分析・測定・検査サービス
EEJAでは、パフォーマンス向上とコスト削減の両立を目指し、多種多様な分析/解析/測定機器を取り揃えています。お客様から現在ご使用中のサンプルをお預かりし、当社ラボにてめっき評価を実施することで、ご希望の仕様に沿った最適なご提案が可能です。
生産現場の視点で見た、豊富な設備
パフォーマンスの向上とコスト削減を実現させるため、EEJAではあらゆる分析/測定/検査装置・機器を取り揃えています。お客様が現在ご使用になっているサンプルをお預かりし、当社のラボで量産体制に近い形でめっき評価できるため、希望通りの仕様でのご提供が可能です。
分析/測定/検査装置・機器一覧
- キャピラリー・電気泳動
- FIB-SIM
- FE-SEM(EDX)
- イオンクロマトグラフィ
- 蛍光X線膜厚測定器
- 微小硬度計
- レーザー顕微鏡
- 液体クロマトグラフィ
- 光沢度計
- ポテンショスタット
- はんだリフロー試験機
- ボンディング装置
- 色測計
- 紫外・可視分光光度計
- X線回折装置
- ICP発光分光分析装置
- 自動滴定機
- 表面微細形状測定器
- 微粒子カウンター
- 表面粗さ計
- 接触性能試験機
- 強度試験機(シェアテスター)
- 液体電気電導度測定器
- 塩水噴霧装置
- 表面張力測定器


サンプル加工をご体験いただけます!
EEJA工場へのご見学も可能です。サンプルを持参いただき、工場内設備を利用しためっき処理をお試しいただけます。まずはお気軽にお問い合わせ・ご相談ください。

