CVD/ALD-Edelmetall-Präkursoren

CVD/ALD-Edelmetall-Präkursoren

CVD/ALD-Edelmetall-Präkursoren Produktbild

Entwicklung hochreiner Edelmetall-Präkursoren für Halbleiter der nächsten Generation

In der Halbleiterindustrie, in der eine weitere Miniaturisierung und verbesserte Haltbarkeit erfordert wird, werden wir durch eine verbesserte Schichtabscheidegeschwindigkeit bei Ruthenium-Präkursoren die Kosten senken und die Qualität verbessern, um so zur Entwicklung neuer, fortschrittlicher Technologien beizutragen, die durch Halbleiter ermöglicht werden.

CVD = Chemical Vapor Deposition (Chemische Gasphasenabscheidung)
ALD = Atomic Layer Deposition (Atomlagenabscheidung)

Entwicklung und Angebot von Vorläufer

Unsere Firma hat verschiedene CVD/ALD-Präkursoren entwickelt, mit Schwerpunkt auf Ru. Weiterhin haben wir CVD-Vorrichtungen für die Anfertigung von Halbleiter-Dünnschichten, verschiedene Geräte zur Bewertung dieser Dünnschichten (FE-SEM, AFM, GD-MS etc.) im Angebot und bieten Präkursoren für verschiedene Verwendungszwecke an.

Beispiele für Vorläufer (Ru)

Product Name Appearance
DCR
Hochreiner Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung
Hochreiner Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung: DCR
Rupta
Sauerstofffreier Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung
Sauerstofffreier Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung: 
Rupta
TRuST
Hochdampfdruck-Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung
Hochdampfdruck-Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung: TRuST

Mit der Weiterentwicklung von Halbleitern steigt die Erwartung, dass Ru aufgrund seines geringeren Widerstands und seiner höheren Haltbarkeit die weitere Miniaturisierung von Halbleitern fördern wird. Aufgrund seiner überlegenen Eigenschaften wird Ru auch für den Einsatz in Transistor-Gate-Elektroden und DRAM-Kondensatorelektroden in Betracht gezogen.

Hochdampfdruck-Präkursor für die Ru-Schichtabscheidung: TRuST

CVD/ALD--Präkursor: TRuST-Erscheinungsbild

Realisierung weltweit führender Dampfdruckwerte bei flüssigen Ru-Präkursoren

Dieser CVD/ALD-Präkursor hat einen mehr als 100-mal höheren Dampfdruck* als herkömmliche flüssige Ru-Präkursoren. Er wird zur Steigerung der Leistung und Energieeffizienz von Halbleitern in Smartphones und PCs beitragen, darüber hinaus von Halbleitern in Rechenzentren, wo die Nachfrage nach unseren Präkursoren in Zukunft weiter steigen dürfte.

*Experimentelle Werte basierend auf unternehmensinternen Tests bei Normaltemperatur

Besondere Merkmale

  • Weist auch bei Raumtemperatur einen hohen Dampfdruck auf
  • Lässt sich leicht mit Reaktionsgasen (Wasserstoff, Sauerstoff usw.) zersetzen, um die Abscheidung von Ru-Schichten mit geringem Widerstand zu ermöglichen
  • Aufgrund der geringen Molekülgröße wird eine gute Adsorptionseffizienz auf der Substratoberfläche erzielt, was zu einer hohen Schichtabscheidegeschwindigkeit führt
  • Verfügt über eine hervorragende Abdeckungsfähigkeit und ermöglicht auch bei feinen Strukturen mit hohem Aspektverhältnis eine gleichmäßige Schichtabscheidung in tieferen Abschnitten
  • Dampfdruckvergleich von Präkursoren
    Vergleichsdiagramm des Dampfdruckvergleich von Präkursoren:  TRuST / Ru(EtCp)2
  • Ru-Dünnschicht durch ALD, das TRuST nutzt
    Abbildung eines Ru-Dünnschicht durch ALD, das TRuST nutzt

Zweistufiges ALD-Verfahren, das TRuST nutzt

Durch ein zweistufiges ALD-Verfahren, das Wasserstoff und Sauerstoff verwendet, wird einer Oxidation des Substrats vorgebeugt und eine hochwertige ultradünne Schicht mit geringem Widerstand realisiert

Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST

  • Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST_Erste Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit H2

    Erste Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit H2
    Durch Wasserstoffschichtabscheidung wird das Risiko einer Oberflächenoxidation des Untergrunds gesenkt

  • Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST_Zweite Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit O2

    Zweite Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit O2
    Durch Sauerstoffschichtabscheidung ist eine hochreine Schichtabscheidung möglich, bei der die Reinheit des Rutheniums gleichbleibend bei fast 100 Prozent liegt

  • Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST_Ru-Schichtabscheidung  abgeschlossen

    Da zuerst mit der Wasserstoffschichtabscheidung der Untergrund gebildet wird, ist die Ru-Schicht, die darüber durch die Sauerstoffschichtabscheidung entsteht, glatt und dicht und weist einen geringeren Widerstand auf als zuvor

  • Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST_Erste Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit H2
    Erste Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit H2
    Durch Wasserstoffschichtabscheidung wird das Risiko einer Oberflächenoxidation des Untergrunds gesenkt
  • Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST_Zweite Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit O2
    Zweite Stufe: Ru-Schichtabscheidung mit O2
    Durch Sauerstoffschichtabscheidung ist eine hochreine Schichtabscheidung möglich, bei der die Reinheit des Rutheniums gleichbleibend bei fast 100 Prozent liegt
  • Zweistufiges Schichtabscheidungsverfahren mit TRuST_Ru-Schichtabscheidung  abgeschlossen
    Da zuerst mit der Wasserstoffschichtabscheidung der Untergrund gebildet wird, ist die Ru-Schicht, die darüber durch die Sauerstoffschichtabscheidung entsteht, glatt und dicht und weist einen geringeren Widerstand auf als zuvor
  • Durch die zweistufige Schichtabscheidung können auch in ultradünnen Schichtbereichen dichte Ru-Schichten mit geringem Widerstand gebildet werden.
  • Da jeder Verfahrensschritt mit denselben Rohstoffen und bei derselben Schichtabscheidungstemperatur durchgeführt wird, können die Verfahrens- und Investitionskosten gesenkt werden.

REM-Bild des Querschnitts der zweistufigen Schichtabscheidung
REM-Bild des Querschnitts der zweistufigen Schichtabscheidung